DIN EN 60749-23-2004 半导体器件.机械和气候试验方法.第23部分:高温操作寿命

作者:标准资料网 时间:2024-05-19 17:33:03  浏览:8512   来源:标准资料网

【英文标准名称】:Semiconductordevices-Mechanicalandclimatictestmethods-Part23:Hightemperatureoperatinglife(IEC60749-23:2004);GermanversionEN60749-23:2004
【原文标准名称】:半导体器件.机械和气候试验方法.第23部分:高温操作寿命
【标准号】:DINEN60749-23-2004
【标准状态】:作废
【国别】:德国
【发布日期】:2004-10
【实施或试行日期】:2004-10-01
【发布单位】:德国标准化学会(DE-DIN)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:电子设备及元件;集成电路;组件;工作性能;温度试验;粘结强度;水分检验;缺陷;半导体器件;电气工程;气候试验;气候;应力时间;寿命;预应力;半导体;高温试验;寿命试验;机械试验;电学测量;电子工程;环境试验;模拟;定义;质量保证;试验
【英文主题词】:Bondstrength;Climate;Climatictests;Components;Defects;Definition;Definitions;Electricalengineering;Electricalmeasurement;Electronicengineering;Electronicequipmentandcomponents;Environmentaltesting;Environmentaltests;High-temperaturetesting;Integratedcircuits;Life(durability);Lifetest;Mechanicaltesting;Moisturetest;Performanceinservice;Prestress;Qualityassurance;Semiconductordevices;Semiconductors;Simulation;Stresstime;Temperaturetest;Testing
【摘要】:Thistestisusedtodeterminetheeffectsofbiasconditionsandtemperatureonsolidstatedevicesovertime.Itsimulatesthedeviceoperatingconditioninanacceleratedway,andisprimarilyusedfordevicequalificationandreliabilitymonitoring.Aformofhightemperaturebiaslifeusingashortduration,"popularlyknownas""burn-in""",maybeusedtoscreenforinfantmortalityrelatedfailures.Thedetaileduseandapplicationofburn-inisoutsidethescopeofthisstandard.#,,#
【中国标准分类号】:L40
【国际标准分类号】:31_080_01
【页数】:11P.;A4
【正文语种】:德语